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K-WLCY橡(xiang)膠臭氧(yang)(yang)老(lao)化(hua)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱產品(pin)介紹 用(yong)于(yu)橡(xiang)膠制品(pin)，在靜(jing)態拉伸(shen)(shen)或(huo)連續的(de)(de)(de)動態拉伸(shen)(shen)變形(xing)下，或(huo)在間斷的(de)(de)(de)動態拉伸(shen)(shen)與靜(jing)態拉伸(shen)(shen)交(jiao)替(ti)的(de)(de)(de)變形(xing)下，暴露于(yu)密(mi)閉無光照的(de)(de)(de)含有恒定臭氧(yang)(yang)濃(nong)度(du)的(de)(de)(de)空氣和(he)恒溫的(de)(de)(de)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱中(zhong)，按預(yu)定時間對試(shi)(shi)(shi)樣進行檢測，從試(shi)(shi)(shi)樣表(biao)面發生的(de)(de)(de)龜裂或(huo)其(qi)它性(xing)能的(de)(de)(de)變化(hua)程度(du)，評定橡(xiang)膠的(de)(de)(de)耐臭氧(yang)(yang)老(lao)化(hua)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)性(xing)能，以采取(qu)有效的(de)(de)(de)防老(lao)化(hua)措施(shi)，提高橡(xiang)膠制品(pin)的(de)(de)(de)使用(yong)壽命。

K-ZN-P紫外線老化試驗機產(chan)品介紹，適(shi)用于多種(zhong)工業產(chan)品的性能(neng)可靠(kao)性試驗，參照GB/T14522-1993，GB/T16585-1996及(ji)GB/T16422.3-1997等(deng)相應標準條款設(she)計制(zhi)造。符(fu)合ASTMD4329、D499、D4587、D5208、G154、G53；ISO4892-3、ISO11507；EN534；PREN1062-4、BS2782；JISD0205；SAEJ2020等(deng)紫外線老

K-GFT數(shu)顯測量(liang)投影(ying)(ying)儀(yi)(yi)廣泛用于五金，沖壓、精(jing)(jing)密塑膠、端子、模具、螺絲、刀具等。可(ke)高效率檢測各(ge)形狀復雜工件的(de)輪(lun)廓(kuo)尺寸及表面尺寸。儀(yi)(yi)器(qi)光(guang)學(xue)系統(tong)品質(zhi)優良，物鏡成(cheng)像清晰(xi)，放(fang)大倍率準確。在透射(she)照明下，輪(lun)廓(kuo)測量(liang)誤(wu)差(cha)小于0.08%；座(zuo)標測量(liang)示值誤(wu)差(cha)可(ke)達（3+L/75）μm，L為被測長度（單(dan)位：mm）；此投影(ying)(ying)儀(yi)(yi)可(ke)承受超(chao)重荷的(de)精(jing)(jing)密部(bu)件，而不影(ying)(ying)響(xiang)精(jing)(jing)度。

K-WLCY橡膠臭(chou)氧(yang)老化(hua)試(shi)驗箱用(yong)于橡膠制(zhi)品，在靜態拉(la)(la)伸(shen)或連續的動態拉(la)(la)伸(shen)變形下，或在間斷的動態拉(la)(la)伸(shen)與靜態拉(la)(la)伸(shen)交替的變形下，暴露于密閉無光照的含有(you)恒(heng)定(ding)臭(chou)氧(yang)濃度(du)的空氣和(he)恒(heng)溫的試(shi)驗箱中，按預定(ding)時間對試(shi)樣進行檢測，從試(shi)樣表面發生的龜裂或其(qi)它性(xing)能的變化(hua)程度(du)，評定(ding)橡膠的耐臭(chou)氧(yang)老化(hua)試(shi)驗性(xing)能，以采取有(you)效的防老化(hua)措施，提高橡膠制(zhi)品的使用(yong)壽命。

K-ZN-P紫外(wai)線老化試(shi)驗機，適用(yong)于多種(zhong)工業產(chan)品的性(xing)能(neng)可(ke)靠(kao)性(xing)試(shi)驗，參照GB/T14522-1993，GB/T16585-1996及GB/T16422.3-1997等(deng)相應標準條款(kuan)設計制造(zao)。符合ASTMD4329、D499、D4587、D5208、G154、G53；ISO4892-3、ISO11507；EN534；PREN1062-4、BS2782；JISD0205；SAEJ2020等(deng)紫外(wai)線老化試(shi)驗標